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【2h】

Method to calculate electric fields at very small tip-sample distances in atomic force microscopy

机译：在原子力显微镜中计算非常小的尖端 - 样本距离处的电场的方法

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Sacha, Gómez Moñivas;
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年度 2010
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1. Method to calculate electric fields at very small tip-sample distances in atomic force microscopy [J] . G. M. Sacha Applied Physicsletters . 2010,第3期

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2. Frequency modulated atomic force microscopy on MgO(001) thin films: interpretation of atomic image resolution and distance dependence of tip-sample interaction [J] . M Heyde, M STERRET, H-P RUST Nanotechnology . 2006,第7期

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